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     X射線熒光鍍層測厚儀品牌

    X射線熒光鍍層測厚儀品牌

    • 更新日期:2025-05-20
    • 訪問次數:4413?

    X射線熒光鍍層測厚儀品牌:本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業小樣品測試腔的設計,帶有聚焦光點的準直器,高分辨率的探測系統,眾多Z佳條件的選擇,保證測試結果的準確性。X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。

      X射線熒光鍍層測厚儀品牌

       配置型號

    探測器

    X光管

    高壓電源

    Ux-700 M

    AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

    上??祁U維(國產)

    咸陽威思曼(國產)

    Ux-700 H

    AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

    上??祁U維(國產)

    spellman(進口)

    Ux-700 S

    AMPTEK SDD X-123(進口)

    上??祁U維(國產)

    spellman(進口

     
      UX-700產品指標:X射線熒光鍍層測厚儀品牌
     
      測厚技術:X射線熒光測厚技術
     
      測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
     
      測量下限:0.003um
     
      測量上限:30-50um(以材料元素判定)
     
      測量層數:10層
     
      測量用時:30-120秒
     
      探測器類型:Si-PIN電制冷
     
      探測器分辨率:149eV
     
      高壓范圍:5-50Kv,50W
     
      X光管參數:5-50Kv,50W,側窗類;
     
      光管靶材:Mo靶;
     
      濾光片:鍍層濾光片
     
      CCD觀察:260萬像素
     
      微移動范圍:XY15mm
     
      輸入電壓:AC220V,50/60Hz
     
      測試環境:非真空條件
     
      數據通訊:USB2.0模式
     
      準直器:Ø0.5mm
     
      軟件方法:FlexFP-Mult
     
      工作區:開放工作區 自定義
     
      樣品腔:70*20mm
     
      整機重量:38kg
     
      UX-700產品介紹:
     
      本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業小樣品測試腔的設計,帶有聚焦光點的準直器,高分辨率的探測系統,眾多條件的選擇,保證測試結果的準確性。
     
      X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。
     
      Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺,可以通過鼠標的點擊操作,選擇樣品的多點測試,特別適應于細小結構多種不同鍍層材料的測試。
     
      Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數的攝像設備,測試樣品的部位清楚明了,同時攝像設備拍抓測試部位的圖片,和測試數據結果一同出現在測試報告中。
     
      Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。
      
      UX-700 鍍層測厚方法:
     
      1.磁性涂層測厚法
     
      使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
     
      2.渦流層層測厚法
     
      可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
     
      3.X射線熒光法
     
      所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試,同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
     
      常用單位:
     
      微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)
     
      1um=39.4邁, 1um=0.04mil
     
     

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